光学显微镜追踪纳米粒子

20 Mar 2008

一种使用普通光学显微镜检测微小颗粒的新成像技术可以替代荧光标记。

二氧化硅颗粒

美国和意大利的研究人员正在使用传统的光学显微镜来检测比仪器的正常分辨率小得多的纳米颗粒。密歇根州立大学的Eann Patterson和欧盟委员会DG联合研究中心的Maurice Whelan在拍摄细胞图像时提出了这个想法。

两家公司的合作伙伴注意到，其高分辨率图像被焦散，明亮的光线包围着黑暗的阴影所打断。与纳米大小的囊泡相互作用的光所产生的图案比细胞内结构大很多倍，从而在传统的倒置光学显微镜上优雅地捕获了纳米尺度。

“使用该技术，我们相信将可以在三个维度上实时跟踪粒子，从而可以非侵入性地研究相互作用。例子包括自组装过程，或纳米粒子与功能化表面的结合，”帕特森告诉 nanotechweb.org。 “该方法相对于颗粒的荧光标记具有主要优势，荧光标记通常需要较长的曝光时间，并且遭受光漂白。”

那怎么办呢？他解释说：“将您的显微镜设置为可在科勒照明下正常观看，然后将所有光圈孔径减小到最小。” “有些焦散可能会立即显现出来，即使不能稍微移开焦点就可以观察到它们。”

Patterson和Whelan尚未为其手术找到下限。实际上，到目前为止，主要的限制是缺少适当大小和经过认证的测试样品。

最初的工作表明，苛性碱产生的放大倍数是粒径的一百到一千倍。

为了开发潜在的应用，研究人员现在正在对光的行为进行建模。